Atomic force microscopy study of hexagonal boron nitride film growth on 6H-SiC (0001)

• المؤلفون الرئيسيون: Chen, W., Loh, K.P., Lin, M., Liu, R., Wee, A.T.S.
• مؤلفون آخرون: INSTITUTE OF ENGINEERING SCIENCE
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/115599

10.1002/pssa.200406909