Improvement of dielectric loss tangent of Al2O3 doped Ba0.5Sr0.5TiO3 thin films for tunable microwave devices

10.1063/1.1638615

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Chong, K.B., Kong, L.B., Chen, L., Yan, L., Tan, C.Y., Yang, T., Ong, C.K., Osipowicz, T.
مؤلفون آخرون: TEMASEK LABORATORIES
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/115770
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore