Extending the lifetime of NAND flash memory by salvaging bad blocks

• المؤلفون الرئيسيون: Wang, C., Wong, W.-F.
• مؤلفون آخرون: COMPUTER SCIENCE
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2013
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/40100

Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE