Read and Write Voltage Signal Optimization for Multi-Level-Cell (MLC) NAND Flash Memory

The multi-level-cell (MLC) NAND flash channel exhibits nonstationary behavior over increasing program and erase (PE) cycles and data retention time. In this paper, an optimization scheme for adjusting the read (quantized) and write (verify) voltage levels to adapt to the nonstationary flash channel...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Aslam, Chaudhry Adnan, Guan, Yong Liang, Cai, Kui
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2016
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/80559
http://hdl.handle.net/10220/40548
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!