Determination of minority carrier diffusion lengths in semiconductor wafers with non-uniform carrier lifetimes by the surface photovoltage technique
Conference on Optoelectronic and Microelectronic Materials and Devices, Proceedings, COMMAD
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | مقال |
| منشور في: |
2014
|
| الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/62028 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|