A review of near infrared photon emission microscopy and spectroscopy

• المؤلفون الرئيسيون: Phang, J.C.H., Chan, D.S.H., Tan, S.L., Len, W.B., Yim, K.H., Koh, L.S., Chua, C.M., Balk, L.J.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/69041

Proceedings of the International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA