Enhanced pixel by pixel emissivity correction for thermal microscopy

• المؤلفون الرئيسيون: Goh, S.H., Yim, K.H., Phang, J.C.H., Balk, L.J.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/70183

Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2004