Improved technique for measuring complex reflection coefficients of microwave devices using only two power detectors

• المؤلفون الرئيسيون: Yeo, S.P., Tay, S.T.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/72692

Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference