Improved four-port instrument using two power detectors to measure complex reflection coefficients of microwave devices

Electronics Letters

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書目詳細資料
Main Authors: Yeo, S.P., Cheng, M.
其他作者: ELECTRICAL ENGINEERING
格式: Article
出版: 2014
主題:
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/50566
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