Temperature-dependent phase separation during annealing of Ge 2Sb 2Te 5 thin films in vacuum

10.1016/j.apsusc.2012.03.005

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Zhang, Z., Pan, J., Fang, L.W.-W., Yeo, Y.-C., Foo, Y.L., Zhao, R., Shi, L., Tok, E.S.
مؤلفون آخرون:	ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق:	مقال
منشور في:	2014
الموضوعات:	Ge 2Sb 2Te 5 Phase separation X-ray photoelectron spectroscopy
الوصول للمادة أونلاين:	http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/83153
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة:	National University of Singapore

الوصف
الملخص:	10.1016/j.apsusc.2012.03.005

مواد مشابهة