Consistent and reliable MESFET parasitic capacitance extraction method

• المؤلفون الرئيسيون: Ooi, B.L., Ma, J.Y.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/83577

10.1049/ip-map:20040128