Novel parallel plate condenser for single particle electrostatic force measurements in atomic force microscope

• المؤلفون الرئيسيون: Kwek, J.W., Vakarelski, I.U., Ng, W.K., Heng, J.Y.Y., Tan, R.B.H.
• مؤلفون آخرون: CHEMICAL & BIOMOLECULAR ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الموضوعات: Atomic force microscope; Electrostatic forces; Microparticles
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/89611

10.1016/j.colsurfa.2011.06.008