BEEM studies on metal high K-dielectric HfO2 interfaces

• المؤلفون الرئيسيون: Zheng, Y., Troadec, C., Wee, A.T.S., Pey, K.L., O'Shea, S.J., Chandrasekhar, N.
• مؤلفون آخرون: PHYSICS
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/95860
• المؤسسة: National University of Singapore

10.1088/1742-6596/61/1/266