Near-field spectroscopy of silicon dioxide thin films

• المؤلفون الرئيسيون: Zhang, L.M., Andreev, G.O., Fei, Z., McLeod, A.S., Dominguez, G., Thiemens, M., Castro-Neto, A.H., Basov, D.N., Fogler, M.M.
• مؤلفون آخرون: PHYSICS
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/97303

10.1103/PhysRevB.85.075419