Local powers of least-squares-based test for panel fractional Ornstein-Uhlenbeck process

Based on the least squares estimator, this paper proposes a novel method to test the sign of the persistence parameter in a panel fractional Ornstein-Uhlenbeck process with a known Hurst parameter H. Depending on H ∈ (1/2, 1), H = 1/2, or H ∈ (0, 1/2), three test statistics are considered. In the nu...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: TANAKA, Katsuto, XIAO, Weilin, Jun YU
التنسيق: text
اللغة:English
منشور في: Institutional Knowledge at Singapore Management University 2020
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ink.library.smu.edu.sg/soe_research/2358
https://ink.library.smu.edu.sg/context/soe_research/article/3357/viewcontent/LSE_test_14_.pdf
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Singapore Management University
اللغة: English