Preliminary application of tapered glass capillary microbeam in MeV-PIXE mapping of longan leaf for elemental concentration distribution analysis

© Published under licence by IOP Publishing Ltd. This study was aimed at understanding elemental concentration distribution in local longan leaf for how the plant was affected by the environment or agricultural operation. The analysis applied the MeV-microbeam particle induced X-ray emission (PIXE)...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: S. Natyanun, S. Unai, L. D. Yu, U. Tippawan, N. Pussadee
التنسيق: دورية
منشور في: 2018
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=85034043641&origin=inward
http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/43566
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!