A maximum likelihood method for detecting bad samples from Illumina BeadChips data
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | Theses and Dissertations |
| اللغة: | other |
| منشور في: |
Đại học Quốc gia Hà Nội
2016
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/8273 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| المؤسسة: | Vietnam National University, Hanoi |
| اللغة: | other |