Multiple wavelength fringe analysis for surface profile measurements
Interferometry has been widely used for surface metrology because of their precision, reliability, and versatility. Although monochromatic-light interferometery can provide high sensitivity and resolution, but it fails to quantify largediscontinuities. Multiple-wavelength techniques have been succes...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | Conference or Workshop Item |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2019
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/104900 http://hdl.handle.net/10220/49156 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|