“Multipoint force feedback” leveling of massively parallel tip arrays in scanning probe lithography
Nanoscale patterning with massively parallel 2D array tips is of significant interest in scanning probe lithography. A challenging task for tip-based large area nanolithography is maintaining parallel tip arrays at the same contact point with a sample substrate in order to pattern a uniform array. H...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2015
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/106024 http://hdl.handle.net/10220/26285 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|