Microscopy using randomized speckle illumination
It is well known for structured illumination microscopy (SIM) that the lateral resolution by a factor of two beyond the classical diffraction limit is achieved using spatially structured illumination in wide-field fluorescence microscope. In the state of art SIM systems, grating patterns are general...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | مقال |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2019
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/106440 http://hdl.handle.net/10220/49637 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|