Contrast and Raman spectroscopy study of single- and few-layered charge density wave material : 2H-TaSe2
In this article, we report the first successful preparation of single- and few-layers of tantalum diselenide (2H-TaSe2) by mechanical exfoliation technique. Number of layers is confirmed by white light contrast spectroscopy and atomic force microscopy (AFM). Vibrational properties of the atomically...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Hajiyev, Parviz, Cong, Chunxiao, Qiu, Caiyu, Yu, Ting |
---|---|
مؤلفون آخرون: | School of Physical and Mathematical Sciences |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2013
|
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/106750 http://hdl.handle.net/10220/16637 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
مواد مشابهة
-
Contrast and Raman spectroscopy study of single-and few-layered charge density wave material: 2H-TaSe2
بواسطة: Hajiyev, P., وآخرون
منشور في: (2014) -
Mechanical exfoliation and characterization of single- and few-layer nanosheets of WSe2, TaS2, and TaSe2
بواسطة: Li, Hai, وآخرون
منشور في: (2014) -
Synthesis of Atomically Thin 1T-TaSe2 with a Strongly Enhanced Charge-Density-Wave Order
بواسطة: Wang, Hong, وآخرون
منشور في: (2020) -
Raman spectroscopy study of lattice vibration and crystallographic orientation of monolayer MoS2 under uniaxial strain
بواسطة: Wang, Yanlong, وآخرون
منشور في: (2014) -
Graphene and its derivatives : fabrication and Raman spectroscopy study
بواسطة: Cong, Chunxiao
منشور في: (2012)