A new computational approach for three-dimensional singular stress analysis of interface voids
Defects in terms of three-dimensional voids are commonly encountered at bi-material interfaces. In the current study, the singular stress field near the circumferential corner line of a three-dimensional axisymmetric interfacial void is analyzed using our newly established singular interface edge el...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2021
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/151864 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|