Defect characterization of materials' surface using Python
Gallium nitride semiconductor (GaN) has become popular over the past few years. GaN based devices can be found in a charger, electric vehicles, and the latest 5G network. GaN layer could be grown on a different substrate such as Silicon (Si) and Silicon Carbide (SiC). However, growing GaN on diffe...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Final Year Project |
اللغة: | English |
منشور في: |
Nanyang Technological University
2022
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/157414 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |