Anomaly detection for X-ray of PCB & IC images
This project investigates the use of deep learning models for defect detection in printed circuit boards and integrated circuits using YOLOv9. We developed a customized neural network model that take binary mask images and identifies defects in each image. The methodology included converting the dat...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | Final Year Project |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Nanyang Technological University
2024
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/177102 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|