Low dimensional semiconductor structures MOCVD growth and their characterizations
This project is on low dimensional semiconductor structures MOCVD growth and their characterizations, mainly focused on multiple quantum wells structure growth by MOCVD. Samples were characterized by using high resolution X-ray diffractions (XRD) and photoluminescence (PL). In this dissertation, pro...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Theses and Dissertations |
منشور في: |
2008
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/3278 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |