I-touch based phase shift reflectometry for shape measurement
In most industry, inspection is the key in producing quality products. As demand for quality products has been progressively vital to end-users, it is a must to have a top-notch quality control requirements and this can be done using Non Destructive Testing (NDT). There are many ways to conduct NDT...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Ahmad Zaki Jama Ludin |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Anand Krishna Asundi |
التنسيق: | Final Year Project |
اللغة: | English |
منشور في: |
2014
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/60947 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
-
Phase shift reflectometry for wafer inspection
بواسطة: Peng, Kuang, وآخرون
منشور في: (2018) -
Phase shift reflectometry for sub-surface defect detection
بواسطة: Asundi, Anand Krishna, وآخرون
منشور في: (2013) -
Development of FMCW reflectometry in distributed strain measurement
بواسطة: Won, Pei Chin.
منشور في: (2008) -
iPod touch operator control unit for unmanned ground vehicles
بواسطة: Lee, Yong Siang.
منشور في: (2010) -
Multi-touch navigation with an iPod touch
بواسطة: Liu, Weiqiang.
منشور في: (2011)