Thermal Characteristics of InP-Al2O3/Si Low Temperature Heterogeneous Direct Bonding for Photonic Device Integration
Thermal characteristics of InP-Al2O3/Si bonding for photonic integrated circuits application have been reported in this work. This paper firstly demonstrates low temperature heterogeneous direct bonding assisted by a thin layer of high-κ dielectric material (Al2O3). The InP samples with epitaxial gr...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2016
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/83856 http://hdl.handle.net/10220/41485 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!