Wavefront subaperture stitching with Shack-Hartmann sensor
A new approach for large field of view measurement using the Shack-Hartmann wavefront sensor (SHWS) is proposed. The object to be measured is divided into several subaperture units. Each unit is measured using the SHWS and a new algorithm is applied to stitch these units. Both theoretical principle...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Li, Hongru, Feng, Guoying, Sun, Jianfei, Bourgade, Thomas, Zhou, Shouhuan, Asundi, Anand |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Asundi, Anand K. |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
اللغة: | English |
منشور في: |
2018
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/89552 http://hdl.handle.net/10220/47095 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
-
Digital Shack-Hartmann wavefront sensing
بواسطة: Rinov Herawan.
منشور في: (2008) -
Optimization of scanning strategy of digital Shack–Hartmann wavefront sensing
بواسطة: Li, Xiang, وآخرون
منشور في: (2013) -
A tunable Shack-Hartmann wavefront sensor based on a liquid-filled microlens array
بواسطة: Hongbin, Y., وآخرون
منشور في: (2014) -
Silicon wafer microstructure imaging using InfraRed Transport of Intensity Equation
بواسطة: Li, Hongru, وآخرون
منشور في: (2018) -
Phase shift reflectometry for wafer inspection
بواسطة: Peng, Kuang, وآخرون
منشور في: (2018)