Growth, crystal structure, and properties of epitaxial BiScO3 thin films

Epitaxial thin films of BiScO3—a compound thermodynamically unstable under ambient conditions—were grown on BiFeO3-buffered SrTiO3 substrates. X-ray diffraction confirmed the reasonable crystalline quality of the films with a full width at half maximum of 0.58° in ω (004 reflection), 0.80° in ϕ (222...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Takayama-Muromachi, Eiji, Trolier-McKinstry, Susan, Biegalski, Michael D., Wang, Junling, Belik, Alexei A., Levin, Igor
مؤلفون آخرون: School of Materials Science & Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2011
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/93868
http://hdl.handle.net/10220/6932
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English