An efficient soft error protection scheme for MPSoC and FPGA-based verification

As transistor density continues to increase with the advent of nanotechnology, reliability issues raised by more frequently appeared soft errors are becoming critical tasks for future embedded multiprocessor systems design. State-of-the-art techniques for soft error protections targeting multiproces...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Liu, Weichen, Zhang, Wei, Mao, Fubing
مؤلفون آخرون: School of Computer Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2013
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/98394
http://hdl.handle.net/10220/12463
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!