C-V MEASUREMENTS OF ULTRA THIN GATE MOSFETS (METAL-OXIDE-SEMICONDUCTOR FIELD-EFFECT TRANSISTOR)

Master's

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書目詳細資料
主要作者: VU NGUYEN TUAN HA
其他作者: SINGAPORE-MIT ALLIANCE
格式: Theses and Dissertations
出版: 2019
在線閱讀:https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/153956
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機構: National University of Singapore