Oxygen Electromigration and Energy Band Reconstruction Induced by Electrolyte Field Effect at Oxide Interfaces

• المؤلفون الرئيسيون: Zeng, S. W., Yin, X. M., Herng, T. S., Han, K., Huang, Z., Zhang, L. C., Li, C. J., Zhou, W. X., Wan, D. Y., Yang, P., Ding, J., Wee, A. T. S., Coey, J. M. D., Venkatesan, T., Rusydi, A., Ariando, A.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: American Physical Society 2020
• الوصول للمادة أونلاين: https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/168578
• المؤسسة: National University of Singapore

PHYSICAL REVIEW LETTERS