Improved technique for measuring complex scattering coefficients of two-port microwave devices using only six power detectors

• المؤلفون الرئيسيون: Yeo, S.P., Ang, C.K., Cheng, M.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/50628

Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference