Direct extraction of substrate network parameters for RF MOSFET modeling using a simple test structure

• المؤلفون الرئيسيون: Mahalingam, U., Rustagi, S.C., Samudra, G.S.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الموضوعات: CMOS RF modeling; RF MOSFET parameter extraction; Substrate network; Substrate resistance
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/55647

10.1109/LED.2005.863132