Evolution of quasi-breakdown in thin gate oxides

10.1063/1.1464648

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書目詳細資料
Main Authors: Loh, W.Y., Cho, B.J., Li, M.F.
其他作者: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
格式: Article
出版: 2014
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/55923
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