Magnetic force microscopy using focused ion beam sharpened tip with deposited antiferro-ferromagnetic multiple layers

• المؤلفون الرئيسيون: Liu, Z., Dan, Y., Jinjun, Q., Wu, Y.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/56552

10.1063/1.1456056