Analysis of the drain thermal noise for deep submicron MOSFETs

• المؤلفون الرئيسيون: Ji, Y., Nan, L., Mouthaan, K.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/69407

10.1109/APMC.2009.5384327