Influences of gate drive on pulsed current collapse recovery in AlGaN/GaN power HEMTs

• المؤلفون الرئيسيون: Li, Y., Liang, Y.C., Samudra, G.S., Huang, H., Yeo, Y.-C.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/70594

10.1109/PEDS.2013.6527074