Study of integrated circuits I-V characteristics using a fault localization systems [FLS]

• المؤلفون الرئيسيون: Quah, L.T.S., Wong, W.K., Phang, J.C.H., Chan, D.S.H., Ho, P.Y.S.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/72947
• المؤسسة: National University of Singapore

Proceedings of the International Symposium on the Physical 7 Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA