Depth profiling of GaN by cathodoluminescence microanalysis

• المؤلفون الرئيسيون: Fleischer, K., Toth, M., Phillips, M.R., Zou, J., Li, G., Chua, S.J.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/80350

10.1063/1.123460