Micro-Raman investigation of strain in GaN and Al xGa 1-xN/GaN heterostructures grown on Si(111)

10.1063/1.1502921

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書目詳細資料
Main Authors: Tripathy, S., Chua, S.J., Chen, P., Miao, Z.L.
其他作者: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
格式: Article
出版: 2014
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82697
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機構: National University of Singapore