Rapid thermal oxidation of radio frequency sputtered polycrystalline Si1-xGex thin films

10.1016/S0038-1101(01)00240-4

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Natarajan, A., Bera, L.K., Choi, W.K., Osipowicz, T., Seng, H.L.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82968
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore