DLTS characterisation of InGaAlP films grown using different V/III ratios

• المؤلفون الرئيسيون: Lim, H.F., Chi, D.Z., Dong, J.R., Soh, C.B., Chua, S.J.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الموضوعات: DLTS; Extended defects; InGaAlP; Logarithmic capture
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/83644

10.1016/S1369-8001(02)00031-8