Characterization of lead lanthanum titanate thin films grown on fused quartz using MOCVD

• المؤلفون الرئيسيون: Chen, H.Y., Lin, J., Tan, K.L., Feng, Z.C.
• مؤلفون آخرون: PHYSICS
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الموضوعات: Chemical vapour deposition; Fourier transform infrared spectroscopy; Raman scattering; X-ray diffraction; X-ray photoelectron spectroscopy
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/95962

Thin Solid Films