Investigation of annealing effects on indium tin oxide thin films by electron energy loss spectroscopy

10.1016/S0040-6090(99)00882-2

Saved in:
書目詳細資料
Main Authors: Zhu, F., Huan, C.H.A., Zhang, K., Wee, A.T.S.
其他作者: PHYSICS
格式: Article
出版: 2014
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/96977
標簽: 添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!