Ionization probability of Si+ ion emission from clean Si under Ar+ bombardment

10.1088/0953-8984/9/43/025

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Low, M.H.S., Huan, C.H.A., Wee, A.T.S., Tan, K.L.
مؤلفون آخرون: PHYSICS
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/97002
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!