Raman shift and broadening in stress-minimized Ge nanocrystals in silicon oxide matrix

Materials Research Society Symposium - Proceedings

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Main Authors: Jie, Y.X., Huan, Cha, Wee, A.T.S., Shen, Z.X.
其他作者: PHYSICS
格式: Article
出版: 2014
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/97736
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機構: National University of Singapore