Optical interferometric technique for induced strain ferroelectric loop study at low frequency

Michelson interferometric technique was modified in the setup and used to measure very small changes in optical path length for electric field induced-strain phenomena. Induced-strain is established in the sample when the beam of light propagating through the sample surface undergoes a shift in phas...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Siripong Somwan, Khem Chirapatpimol, Apichart Limpichaipanit, Komsanti Chokethawai, Athipong Ngamjarurojana
التنسيق: Book Series
منشور في: 2018
الوصول للمادة أونلاين:https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=84904052484&origin=inward
http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/45596
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Chiang Mai University