System development of a time-of-flight spectrometer for surface analysis of materials
This is original study on design the time-of-flight Rutherford backscattering spectrometry (TOF-RBS) technique for nano-material surface analysis with high resolution. At Fast Neutron Research Facility, FNRF, upgrading of the existing pulsed-beam accelerator from 150-keV of D+ to 280 keV of He+ was...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , |
|---|---|
| التنسيق: | وقائع المؤتمر |
| منشور في: |
2018
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=84898835073&origin=inward http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/61945 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|