Nanometer-scale displacement measurement using a simple diffraction grating with a quadrature detection technique

A phase-sensitive transparent grating interferometer is proposed to measure small displacements. A transparent grating is inserted between a light source and a reflective mirror. The diffracted light beams of the forward and backward propagation are superposed to form the interference pattern. When...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Nuntakulkaisak T.
مؤلفون آخرون: Mahidol University
التنسيق: مقال
منشور في: 2023
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://repository.li.mahidol.ac.th/handle/123456789/86913
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Mahidol University

مواد مشابهة