Nanometer-scale displacement measurement using a simple diffraction grating with a quadrature detection technique
A phase-sensitive transparent grating interferometer is proposed to measure small displacements. A transparent grating is inserted between a light source and a reflective mirror. The diffracted light beams of the forward and backward propagation are superposed to form the interference pattern. When...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | مقال |
| منشور في: |
2023
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://repository.li.mahidol.ac.th/handle/123456789/86913 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| المؤسسة: | Mahidol University |